ZEISS VersaXRM 5 Insight ускоряет гибридную 3D‑рентгеновскую визуализацию

Многомасштабная визуализация без нарушения рабочего процесса

Исследователям, инженерам и биологам часто нужно изучать образцы в разных масштабах, чтобы найти внутренние особенности, влияющие на работоспособность, поведение или разрушение материалов, а также чтобы понять структуру и пространственную организацию биологических объектов. ZEISS VersaXRM 5 Insight сочетает широкое поле зрения и высокое разрешение в одной системе: пользователи могут сканировать крупные образцы, увеличивать интересующие области и получать детальные трёхмерные изображения без смены конфигурации оборудования и без прерывания эксперимента.

Система сочетает пропускную способность, гибкость и эффективность микроКТ с детальной визуализацией лабораторной рентгеновской микроскопии, что даёт единый рабочий процесс для изучения и крупных структур, и мелких внутренних элементов при сохранении целостности образца.

Визуализация с высоким разрешением, сохраняющая целостность образца

ZEISS VersaXRM 5 Insight предлагает функцию разрешения на расстоянии (RaaD), которая позволяет получать изображения мелких деталей и внутренних дефектов в объёмных образцах. Благодаря этому сокращается необходимость разрезать, обрезать или повторно фиксировать пробу — экономится время, снижается риск ошибок при подготовке и защищаются хрупкие или трудно восстанавливаемые образцы.

Неразрушающий подход помогает заранее определять зоны интереса внутри образца перед дальнейшей подготовкой или дополнительными исследованиями, что делает исследования более целенаправленными, сокращает лишнюю обработку и повышает надёжность контроля качества и научных выводов.

Управляемая работа для более быстрых и надёжных результатов

Производительность 3D‑рентгеновской визуализации зависит не только от скорости сканирования. Система учитывает время на настройки, вариативность действий оператора и решения по рабочему процессу с помощью ZEN navx — интуитивной среды с подсказками и навигацией, ориентированной на конкретный образец. Это упрощает подготовку, формализует выбор параметров визуализации и помогает защитить как образец, так и оборудование.

Режим FAST даёт быструю обратную связь изображениями для трёхмерной навигации, проверки целых деталей и сканирования с промежуточным разрешением. Это ускоряет скрининг и позиционирование, а также позволяет проводить эксперименты на месте , сокращая общее время получения результатов.

«Для групп, которым нужна и повседневная пропускная способность, и расширенные возможности трёхмерной визуализации, ZEISS VersaXRM 5 Insight предлагает практический путь вперёд», — сказал д-р Кейт Дункан, научный сотрудник и директор отдела рентгеновской визуализации в Научном центре завода Данфорт, Миссури, США, после бета‑тестирования системы. «Улучшенная архитектура детектора, где плоскопанельный детектор сочетается с технологией RaaD, даёт высокое качество изображения. Это позволяет быстро переходить от обзора к деталям, сохраняя образцы неповреждёнными и оптимизируя рабочие процессы». При исследовании материалов такая система помогает изучать механизмы отказов, обнаруживать внутренние дефекты и количественно оценивать изменение микроструктуры с помощью исследований in situ и 4D‑анализов. В промышленности это может поддержать проверку качества деталей с высоким разрешением, анализ первопричин в полупроводниковых и электронных упаковках, а также углублённый трёхмерный анализ производственных процессов и анализа отказов.